X射线无损测试系统 EFPscan-2000

适合大面积板状物的高分辨率快速3D断层检测 EFPscan-2000是面向PCBA和IGBT领域的3D X-ray检测系统，采用了先进的Computed Laminography CL）扫描模式和重建算法，可以在离线、线边和在线应用，对全板进行检测。适用于BGA/LGA、pressfit connector、Flip chip、PoP、QFN、PTH、IGBT等电子器件检测，发现器件内部的气孔、开路、桥连、枕头效应、润湿不良、缺件、错件等缺陷。 ●最快可在5秒内完成一个FOV区域的CT成像 ●大尺寸板状样品无需破坏，仍可获得高分辨率 ●可编程扫描工艺，简化操作人员的工作量 ●专用自动识别算法，定量统计器件内部的缺陷