CT检测系统 SE-CT2000

X射线扫描式3D

SE-CT2000 高精度台式精密 CT 检测系统是专为精密工业应用精心打造的先进 X 射线扫描解决方案。 该系统采用 2μm 高精度检测设计，利用具有强大穿透能力的强大 X 射线源。 SE-CT2000 高精度台式精密 CT 检测系统是专为精密工业应用精心打造的先进 X 射线扫描解决方案。该系统采用 2μm 高精度检测设计，利用强大的 X 射线源，具有强大的穿透能力。 其主要应用包括电子零件检测、故障分析和产品制造中的逆向设计，确保精确细致的成像，以提高质量控制和诊断水平。 X 射线源 - 类型：开放式 - 工作电压：225 千伏 - 检测能力：2 微米 - 空间分辨率： 4 μm4 μm 一般规格 - 最大装载面积520 毫米×650 毫米 - 最大装载重量装载重量：30 千克 - 像素尺寸： 139μm - 像素数量： 3072×3072 - 图像面积427 毫米×427 毫米 - 尺寸：2460 毫米×1485 毫米×2085 毫米2460 毫米×1485 毫米×2085 毫米 - 总重量约 5500 千克 - 软件：二维预览和三维重建 空间测量和机器控制分析软件（可选）