过程分析仪 SSD-MSF

X射线

SSD-MSF Rigaku 的 SSD-MSF 是配备D/TEX Ultra1000 1D 半导体检测器的 X 射线应力分析仪，使用 X 射线对制造过程中材料中积累的残余应力进行非破坏性测量。 自动 Z 轴支架可轻松测量大小样品。 该应力分析仪的测量速度是闪烁计数器的二十倍，是位置敏感比例计数器 (PSPC) 的两倍。 高灵敏度、高能分辨率、一维半导体检测器 D/TEX Ultra1000 D/TEX Ultra1000 提供了高峰背景比和检测效率比传统 PSPC 的 1.7 倍。 自动 Z 轴支架将可测量的样品尺寸扩展至 1100 毫米，臂长度可达 530 毫米。