荧光光谱仪 NEX DE VS

EDXRF工艺流程检查

NEX DE VS 高性能小型（可变的）点台 EDXRF 元素分析仪，新款 Rigaku NEX DE VS 具有易于学习的基于 Windows® 的 QuanteZ 软件提供了广泛的元素覆盖范围。 从钠 (Na) 到铀 (U)，对几乎任何基质进行小点分析，从固体、薄膜和合金到粉末、液体和浆料。 在现场、工厂或实验室的 XRF 元素分析 专为重工业用途而设计，无论是在工厂车间还是在偏远现场环境中，NEX DE 具有出色的分析能力、灵活性和易用性，这增加了它对于不断扩展的 应用，包括勘探、研究、散装 RoHS 检验和教育以及工业和生产监测应用。 无论是基本质量控制 (QC) 还是更复杂的变体，如分析质量控制 (AQC)、质量保证 (QA) 或统计过程控制 (如六西格玛)，NEX DE 都是 XRF 常规元素分析的可靠高性能选择。 带 60kV X 射线管和 SDD 检测器的 XRF 60kV X 射线管和珀尔帖冷却式 FAST SDD® 硅漂移检测器具有出色的短期重复性和长期重复性，具有出色的元件峰值分辨率。 这种高电压能力 (60 kV) 以及高发射电流和多自动 X 射线管滤波器，提供了广泛的 XRF 应用通用性和低检测限度 (LOD)。