“ 聚焦的被分级的多层单色仪
最大化在样品的强度在TXRF的总外反射角度内
在20世纪90年代初介绍由Rigaku创新技术,被分级的多层单色仪为全反射X-射线荧光光谱提供增加的强度和减少的背景。最大Flux®光学使用被分级的multilayers,保证同一X-射线能量从沿表面的每点衍射省略视觉。Rigaku的Osmic®涂上的技术提供在少于0.5% d间距变异的结果。这样高精度手段更多涨潮为您的实验是可利用的。
光学精确度也对好成绩至关重要。使用私有的技术,标准最大涨潮光学在理想的曲线的~10弧秒之内被做。当需要时最佳的表现,Rigaku运用新的弧) Sec®技术达到≤4弧秒光学精确度!
特点
容易的对准线
在样品的增加的强度
很大地减少了背景,特别是从从X-射线来源的假线
伦琴射线束外形和分歧优秀控制
改善的搜集数据
可利用为古芝、Mo、Co、Ag、澳大利亚、哥斯达黎加、W Kα,W Kβ和其他X-射线energies \ /html”
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