校准用测量系统 XM-60

几何图形光学激光

XM-60是一款激光测量系统，只需一次设定即可沿线性轴同时测量6个自由度的误差。它具有强大的诊断工具，通过一次采集就可以测量轴的所有几何误差。 对于执行空间补偿的用户，XM-60为他们获得所需数据组提供了一种快速精准的方法。所有测量均为光学测量，可在任意方向执行。