分析显微镜 SAM 400

用于研究高速超声扫描式

SAM 400 是一款高性能工具，可实现非破坏性声学研究，用于专用高吞吐量分析、质量控制和研究应用。 它具有全新的高速免维护级以及高达 400 MHz 的新射频和传感器技术，通过用户友好的图形界面进行控制。 SAM 400 采用采用最新生产和研究技术的核心平台，以半导体行业标准为基础，可精确处理高达 300 mm 的晶圆和高达 660x860x60 mm（w/l/h）的样品。 超声频率范围高达 500 兆赫，传感器范围从 10 兆赫-400 兆赫。 提供不同的罐体尺寸和托盘。 扫描范围：x = 250微米/430 毫米，x = 250微米/430 毫米，z = 100 毫米