超声扫描式显微镜 SAM 300 TWIN
用于分析用于研究

超声扫描式显微镜 - SAM 300 TWIN - PVA TePla Analytical Systems GmbH - 用于分析 / 用于研究
超声扫描式显微镜 - SAM 300 TWIN - PVA TePla Analytical Systems GmbH - 用于分析 / 用于研究
添加到我的收藏夹
添加到产品对比表
 

产品规格型号

专业应用类型
用于分析, 用于研究
其他特性
超声扫描式

产品介绍

SAM 300孪生是一个高性能工具使能非破坏性的音响调查为高生产量分析、质量管理和研究应用。它以400 MHz为特色新的高速直线运动扫描器和新的rf和变换装置技术,被控制通过一个用户友好的图形接口。 一个新的主从的概念使一些两种变换装置获取同时音响图象。 修造对半导体业界标准在运用最新的生产和研究技术的核心平台附近,SAM孪生扫描可能准确地处理薄酥饼300 mm。超声波从10 MHz频率范围与变换装置的500 MHz - 400 MHz。 扫描的范围:x=250 µm-320 mm,y=250 µm-320 mm,z=100mm 自动焦点适用于每种变换装置

---

* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。