分析显微镜 SAM 300 E
超声扫描式

分析显微镜 - SAM 300 E - PVA TePla Analytical Systems GmbH - 超声扫描式
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产品规格型号

专业应用类型
用于分析
其他特性
超声扫描式

产品介绍

SAM Line 提供易于使用的扫描声学显微镜,用于过程控制和质量保证以及研究应用。 单个型号来自符合行业标准并融合尖端生产和制造技术的组件平台。 凭借新的高频和传感器技术,我们的声学显微镜能够在高达 400 MHz 的超声波范围内进行详细的声学分析。 -线 性供电、低噪声扫描仪-不适合 24/7 操作-在超声波频率范围内分析样品-特别适用于详细的声学测量-配备图形用户界面,易于操作和灵活应用 -扫描范围:x = 320 毫米;y = 320 毫米 -1 千兆采样 ADC

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。