超声扫描式显微镜 AM 300
探头扫描式用于研究工业

超声扫描式显微镜 - AM 300 - PVA TePla Analytical Systems GmbH - 探头扫描式 / 用于研究 / 工业
超声扫描式显微镜 - AM 300 - PVA TePla Analytical Systems GmbH - 探头扫描式 / 用于研究 / 工业
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产品规格型号

分类
探头扫描式
专业应用类型
用于研究, 工业
其他特性
经济型, 超声扫描式

产品介绍

SAM Line 提供易于使用的扫描声学显微镜,用于过程控制和质量保证以及研究应用。 单个型号来自符合行业标准并融合尖端生产和制造技术的组件平台。 凭借新的高频和传感器技术,我们的声学显微镜能够在高达 400 MHz 的超声波范围内进行详细的声学分析。 -对超声波频率范围内的样品进行分析 -特别适合成本效益和非破坏性调查 -适合 24/7 运行 -扫描范围 x; y = 300 毫米; z = 100 毫米 -1 千兆采样 ADC

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。