计量系统

提高测量的可靠性和可持续性，以获得设备过程的关键指标，如位置、尺寸和加速度。 我们为工业和半导体设备市场提供的计量解决方案使更快和更精确的测量成为可能。我们提高测量的可靠性和可持续性，以获得设备过程的关键指标，如位置、尺寸、加速度。 如果您的应用需要从微米到纳米的测量系统，我们提供适合使用的外形尺寸的正确技术。我们在概念思维、光学设计和（杂散光）光线跟踪、极灵敏的采集电路、质量验证和自动化制造等方面运用了我们的所有能力，以实现探索技术和物理边界的最具创新性的解决方案。 原位和超高真空选项 远心光学 激光测量系统 干扰量度法 白色标签 给客户提供贴牌，以配合客户的产品组合。