浊度探头 GUIDED WAVE™

测量光纤工艺流程

我们的 GUIDED WAVE™ 浊度过程探头可抵御腐蚀性过程。探头主体由 316L 不锈钢制成。探头的蓝宝石光学窗口通过聚合物 O 形环与探头本体密封，这些 O 形环与您的工艺相兼容。根据要求，浊度探头可焊接到 ANSI 或 DIN 工艺法兰上。与我们的其他工艺探头（24 英寸或更长）一样，它也与我们的探头提取器兼容。 我们的 GUIDED WAVE 浊度工艺探头带有额外的第三个端口，可与我们的 ClearView® db 工艺光度计一起用于雾度或浊度 (NTU) 测量。浊度测量可在测量透射率的同时检测工艺中的固体突破情况。例如，在监测 Saybolt 颜色时，20 毫米的路径长度非常合适。紫外可见光和近红外过程光谱的主要优势之一是利用本质安全型光纤电缆远程定位分析仪与过程的相对位置。内嵌式探头省去了昂贵且容易出问题的快速回路和采样系统。 浊度探头功能 耐腐蚀结构 坚固设计 O 形圈工艺密封 密封，防止环境湿度渗入 高光学通量，实现低噪音光谱分析 准直光束可实现精确的吸光度测量 抗振动设计 雾度或浊度测量采用 90° 背向散射法。该功能需要第三根光纤将散射光送回分析仪。 工作范围和配置 浊度探头的工作范围主要取决于 O 形圈材料的选择。