新一代微量氯化氢气体分析仪
当你在设备最终测试阶段发现灾难性的产品性能或产量损失时,你可以花很长时间 "寻找 "空气中的分子污染物(AMC);或者你可以部署我们的TIGER OPTICS™ T-I Max™ HCl分析仪来定位和监测这些看不见的缺陷产生者,这些缺陷通常潜伏在设备、人员、晶圆载体和洁净室托架内及周围。
在当今先进的半导体加工过程中,从各种材料、加速加工操作以及基片存储和运输中散发出来的残留气体、蒸汽和化学品已经成为一个关键的问题。以至于国际半导体技术路线图(ITRS)现在强调AMC污染是实现和维持设备低缺陷率的一个关键技术挑战。
由于特别关注AMC "化学污染 "要素的主要贡献者,基于我们新的全球平台的T-I Max HCl分析仪能够以前所未有的灵敏度、选择性和反应速度的组合检测和连续监测HCl。
我们用于AMC的GO-cart通过提供一个可以快速移动到不同关键监测点的移动平台,增加了额外的灵活性。
益处
敏感的绝对测量技术,采用腔体环降光谱法(CRDS)。
大幅提高反应速度和万亿分之一的检测极限
无漂移,校准可追溯至世界领先的参考实验室
最低的拥有成本 - 免维护
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