探测系统

探测系统 - pro-micron GmbH & Co. KG
探测系统 - pro-micron GmbH & Co. KG
添加到我的收藏夹
添加到产品对比表
 

产品介绍

- 用于控制系统和识别的传感器系统 - 检测μm范围内的夹持芯片 - 防止四舍五入的错误 效益 通过识别系统,主轴SiS中的切屑和不正确的刀具位置可以被立即检测到夹住的切屑。这种在制造过程开始前就进行的质量控制,可以防止平面系统中的切屑造成的故障零件。大量的后期测量,例如,在横向确定的跳动误差的情况下,被省略了,因为这些都是由SiS检测到的。该系统被集成到相应修改过的电主轴上,也能承受最苛刻的操作条件,并且完全免维护。 技术细节 主轴切屑检测系统也能检测出非常小的杂质,如刀具和电主轴之间微米级的切屑,并以几毫秒的延迟传送到机床控制中。这在以频繁、全自动换刀为特征的应用中尤其如此,因为它可以防止循环误差。该系统可用于主轴速度高达18.000 U/min的应用。电源是感应式的,数据从主轴的转子上无线传输。

---

PDF产品目录

相关搜索
* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。