3D扫描系统 VS-STYLUS
激光电气化学

3D扫描系统 - VS-STYLUS - Princeton Applied Research - 激光 / 电气化学
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产品规格型号

轴数
3D
所用技术
电气化学

产品介绍

我们很高兴与SENSàSION合作,提供由洛桑联邦理工学院(EPFL)物理与分析电化学实验室(LEPA)的Hubert Girault教授及其同事开发的用于恒定距离SECM的软触针探针接触模式技术。该探针技术具有以下优点: - 恒距离SECM:SECM成像无主要地形伪影。适用于倾斜、波纹和粗糙的样品。 - 与样品的软接触:与硬探针技术相比,软探针的接触力可达1000倍,是研究生物样品恒距模式SECM的理想选择。 - 低成本:不需要额外的硬件和特殊的反馈控制电子装置来控制探头相对于样品的垂直位置。 市场上成本最低的恒距离SECM方法。 - 更快的测量速度:SECM扫描前无需测量地形。快速找到样品表面的接近曲线。 - 灵活稳定的探头:在定位和扫描过程中没有损坏探头或样品的风险。 - 探头到基体的距离小,容易实现,大大增强对比度成像,提高图像分辨率。 - 电极制备方便。每次使用后可将电极的尖端切开,确保表面清洁。可购买替换探针。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。