激光扫描系统 VS-SECM
电气化学

激光扫描系统 - VS-SECM - Princeton Applied Research - 电气化学
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产品规格型号

所用技术
电气化学

产品介绍

SECM集成一个定位系统、bipotentiostat和ultramicroelectrode探针或者技巧。定位系统移动接近样品的表面的探针,在地方想象区域内。bipotentiostat可能对立仅探针(反馈方式)或独立样品和探针(发电器收藏家方式),当测量发生的潮流时。探针特别地被设计有具体逐渐变细的擦亮剂(每个RG比率)和活跃半径在100微米以下。定位系统扫描探针和图位置与被测量的电化学参量,创造地方潮流数据映射。 方法弯曲(反馈方式)使用作为十分地安置在Z的探针接近样品在地方想象区域的电化学手段。直流电压被申请于探针,而DC当前反应被密谋,当探针被增加往样品。当探针十分地是接近样品(距离2-4次探针直径)被测量的潮流在从一个大块反应的技巧转折对一个地方反应。在高传导性的区域,Nernstian反应提供地方潮流被提高在那大块潮流。然而,当大量运输被妨害对探针,地方当前被减少相对在样品的低传导性区域的大块价值。

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