校准干涉仪 VLM200

用于厚度测量数字激光

准确性标准 您的垂直测量解决方案是 Laseruler，它以激光干涉仪为基础，精度极高。 您可以完全放心地测量精密薄膜、零件和量具的高度和厚度。 我们独有的数字干涉仪通过比较测量探头的位置和氦氖（He-Ne）激光光源的波长来测量试样的尺寸，有效地将光的波长与被测件耦合。我们获得专利的激光路径与测量轴一致，消除了阿贝偏移误差。 操作员只需按下按钮或脚踏开关，其余的工作就由仪器来完成。 Laseruler® 可测量 -薄膜厚度 -光学元件 -量块 -球/球体 -球轴承 -涂层厚度 -涂层厚度标准 -插销量规 -螺纹丝 -航空航天零件 -汽车零件 -医疗器械 Laseruler® 的特点和优势： -坚固设计 - 可实现最高的重复性和再现性 -电动探头 - 提高系统稳定性，消除操作员的影响 -数字激光干涉仪 - 保证最高的分辨率、可追溯性和性能 -两步校准 - 先进的省时功能，只需 30 秒即可完成校准。通过两个 NIST 可追溯块，可在整个直读范围内进行连续、精确的测量。 与单点比较仪相比，这大大提高了生产效率。只需要少量的可溯源母块，如块、球等（不包括在内）。 -自动循环 - 在测量标准量具组时提高测量吞吐率