PST6747A 半导体测试系统是测量和分析功率半导体器件静态参数的专业仪器,可为各种功率半导体器件提供完整的测试解决方案。
它是一个理想的 IGBT 静态参数测试平台。
PST6747A 可在 3KV(10kV,可选)和 2200A 下精确测量和分析功率半导体器件的静态参数。PST6747A 具有快速脉冲、fA 级电流检测能力,以及超强的宽电压和电流测量能力。这些功能可用于测试 IGBT 等最新型器件以及 GaN 和 SiC 等新材料。
PST6747A 由独立的高精度源组成,包括 P6701B(3kV 高压高精度源)、P6703B(高精度源)和 P6705A(2200A 大电流源)等。每个电源模块上都有两个独立的 AD(模拟数字)转换器,支持 2µS 采样率。每个模块上的驱动可独立、精确地控制,并可准确监测可能影响半导体特性的关键时序。
对于测试不同类型的功率半导体和功率电路,该仪器使用更方便,数据分析能力更强。同时,PONOVO 开发的软件也简化了测量数据的管理。该软件可根据用户需求进行定制,使用户获得更好的人性化体验。
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