3D轮廓测量仪 TopMap Pro.Surf+
彩色共聚干涉测量光学

3D轮廓测量仪 - TopMap Pro.Surf+ - Polytec - 彩色共聚 / 干涉测量 / 光学
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产品规格型号

所用技术
3D, 彩色共聚, 干涉测量, 光学
功能
用于平面度测量, 用于粗糙度测量
应用
用于控制, 用于生产线
技术参数
工业, 实验室
配置
台式
其他特性
自动, 在线, 非接触式

产品介绍

表面细节、形状参数和粗糙度的综合光学三维测量 TopMap Pro.Surf+为所有表面表征要求提供定制解决方案,评估形状参数,如平面度、台阶高度、平行度和表面粗糙度。其空间分辨率和远心光学系统可到达深层区域,加上无与伦比的测量速度,显示了这种生产计量工具的高性能。 TopMap Pro.Surf+ 使用诸如平面度、台阶高度、平行度和粗糙度等参数为所有表面特性要求提供定制解决方案。总之,空间分辨率、远心镜头和速度确实令人印象深刻。 白光干涉仪与色彩共焦技术的组合意味着不会忽略任何细节。几秒钟内就可完成 44×33mm 大的测量表面上两百万点情况的记录,无需缝合,并且表面积甚至可以扩展到 230 x 220 mm。不管像场尺寸如何,70 mm 的垂直测量范围以及优异的垂直分辨率都可让灵活的测量任务完美完成。远心镜头甚至能够到达难以接触的区域,例如孔。 新一代设备可提供更快的数据采集,有助于符合周期时间和所需速度要求。诸如自动模式识别等集成机器视觉工具极大地提高质量保证过程的速度。可一次性同时捕获多个测试对象,无需机械安装,并且影像视场按照需求排列。
* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。