Photron Crysta是一种高速偏振相机,用于双折射测量、膜厚分析和表面粗糙度检测的二维分析,是了解材料和流体的双折射、缓和、应力和冲击断裂机制等现象的有力工具。
目前已建立的系统采用机械或电驱动作为偏振调制器,它们需要经过多个光检测过程来测量偏振。为了克服这一问题,The Crysta利用采样率为1.3 MHz的高速二维双折射测量系统作为系统的核心器件,在图像传感器中采用16个并行读出电路组成矩阵,这些电路用独立的A/D转换器与每个像素相连。
该图像传感器的设计和制造采用了像素化偏振片阵列,该阵列由光子晶体直接与CMOS传感器粘合而成,使得该传感器中的光学系统具有抗震性。每个偏振片与图像传感器的每个像素以一比一的比例对应。每个偏振片和像素的尺寸为20μm×20μm。在偏振片阵列中,四个相邻的偏振片组(2×2)被设置为在0°、45°、90°和135°的顺时针方向上具有不同的快轴方向。通过计算从图像传感器的四个像素中检测到的光强度,可以获得一个偏振基准。因此,并联读出电路被安排在一个相应的矩阵中。
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