Optris Xi 400红外热像仪的新型显微镜光学系统可对240微米范围内的微小物体进行可靠的温度测量。
与合适的支架配合使用,可对电子工业中的印刷电路板和元件进行专业测量。 相机和物体之间的测量距离可在90至110毫米之间变化。 内置的马达对焦功能可通过附带的PIX Connect软件轻松对焦。
重要规格
• 分析最小至240微米的元件
• 马达对焦,操作简便
• 记录辐射测量视频
• 光学分辨率 382x288 px.
• 供货范围:
过程成像仪 Xi 400
USB电缆(1米)
包括标准PIF电缆(1米)。 接线座
带螺母的安装支架
软件包 optris PIX Connect
• 探测器 FPA,非制冷(17微米间距)
• 光学分辨率 382 x 288像素
• 光谱范围:8 – 14 µm
• 温度范围(可通过编程键或软件扩展):
–20 °C … 100 °C
0 °C … 250 °C
(20) 150 °C … 900 °C 1)
• 帧频: 80 Hz / 27 Hz
• 显微镜光学系统:
18° x 14° (f = 20 mm)
• 最小测量点 (FOV): 81 µm @ 90 mm
• 瞬时视场角 (IFOV): 80 µm
• MFOV: 240 µm @ 90 mm
• 对焦:手动马达对焦
• 远近光比:390:1 (18°光学镜片)。
• 热灵敏度(NETD): 80 mK @ 27 Hz
• 系统精度(环境温度23±5°C时):±2°C或±2%,取较大值
• PC接口: USB 2.0/可选 USB 至 GigE (PoE) 转换
• 工艺接口(PIF):
标准PIF:
0-10 V输入,数字输入(最大24 V),0-10 V输出
工业PIF:
2 x 0-10 V输入,数字输入(最大24 V),3 x 0-10 V输出、
3 x 继电器(0-30 V / 400 mA),故障安全继电器
• 电缆长度(USB):1 m(标准)、3 m、5 m、10 m、20 m
• 环境温度 (TAmb): 0 °C…50 °C
• 相对湿度:10 – 95 %,不凝结
• 相对湿度:10 – 95 %,无冷凝
• 外壳(尺寸/等级):Ø 36 mm x 100 mm (M30x1 螺纹) / IP 67 (NEMA 4)
• 冲击 2): IEC 60068-2-27 (25 G 和 50 G)
• 振动 2):
IEC 60068-2-6(正弦形)
• IEC 60068-2-64(宽带噪声)
• 三脚架安装: 1/4-20 UNC
• 电源:USB供电