固定式测厚仪 CL-2400

数显台式

CL-2400为在指挥的测量，例如铝圆盘和半导体设计，例如硅片。 当在测量之下的材料穿过空白被形成在二个反对的空白传感器之间，厚度被测量。 CL-2400可以为静止或连续厚度测量使用。 BCD产品、RS-232C接口和遥控输入为外部控制、分析和测量自动化提供。