曲率半径测量机

光学自动

光学、非接触式测量试样的翘曲度和弯曲度，最大尺寸 (1600 x 1200) 毫米 概述 该系统设计用于对水平镀膜浮法玻璃基片的曲率（翘曲）进行非接触式光学测量。测量时要评估不同测量点的高度。 翘曲度按最高点和最低点之间的差值计算。 硬件 测量系统有一个底板作为试样的接触面。底板的最大尺寸为 1600 毫米 x 1200 毫米。 底板的非平面度为 100 微米。底板的结构便于装卸试样。止动销可确保基底位置的准确性和可重复性。 由于涂层的反射不均匀，软件可以处理表面的高反射区和低反射区。 开始测量程序后，经纱测量将由软件全自动控制。测量系统可以扫描整个基材区域。 设备对振动不敏感，可在生产条件下使用。 设备的运行由计算机控制，属于供货范围。