接触角度测量仪器 SURFTENS HL

工艺流程半导体工业

SURFTENS百升-测试在半导体技术的专业薄酥饼 交会角米SURFTENSHL设计用于在半导体产业和研究，特别是程序控制的薄酥饼涂层和照相平版印刷的过程。 它描绘的是为以下特点： 交会角的快速和容易的测量， 节省空间建筑 快速映射的特别桌建筑在薄酥饼的交会角发行 与直觉的操作的软件 测量的结果的舒适的文献在协议和在视频图象， 如果必须自由表面能的计算由吴/工作的理论的 与膝上型计算机或个人计算机的任意用途 SURFTENS百升-应用 硅片弄湿的行为的修改是标准处理步在半导体技术。对处理描述特性，技术参量和产量控制的调整。在修改过程前后，因此是绝对必要的，客观地和准确地测量交会角和表面自由能量。 为此一种健壮和易使用的交会角测量仪器是需要的。SURFTENSHL在半导体技术被开发适应需要，并且研究操作是简单和为大家可能在短的训练以后。人工操作保证一个有吸引力价格。 因而SURFTENSHL使用以及在标准程序控制以及在研究与开发。