3D干涉仪 MICROCAM™

长度测量用于厚度测量光学

作为 NOVACAMTM 三维测量系统的核心部件，MICROCAMTM-3D/4D 干涉仪为光学扫描探头提供光源，并对测量结果进行光学和电子处理。 NOVACAM 干涉仪 MICROCAM-3D 和 MICROCAM-4D 提供以下功能： - 微米精度 3D 测量 - 粗糙度、几何形状（GD&T 参数）、厚度、振动、缺陷 - 快速采集率高达 100 kHz，即每秒可进行 100,000 次 3D 点测量 - 测量不受环境光线、空气扰动或光束切割的影响 - 模块化和多功能部署，基于光纤的光学测头可集成到运动平台、机器人、龙门架、坐标测量机和数控机床上。 - 底层技术--低相干干涉测量法提供了许多其他优势。 NOVACAM 光纤光学测头可为各种工业检测应用提供非接触式表面和截面测量。 功能和优点概述 - 光学、非接触、非破坏性 - 高速：每秒可进行多达 100,000 次 3D 点测量 - 微米级分辨率，出色的信噪比 - 二维和三维表面及次表面表征 - 粗糙度、几何形状、厚度、振动 - 长行程轮廓测量 成像 - 表面轮廓 - 透明或半透明材料的横截面 - 体积图像 纤维探头 - 甚至可检测孔、管和缝隙内部 - 非接触式，因此不是消耗品 - 可方便地安装在加工过程中所需的任何位置--数控系统、机器人头或任何精密平台组合 - 为高速在线检测提供多功能性