厚度测量仪器 FilmPro

表面重量红外线用于薄膜

适 用于薄膜、片材和涂层的高性能基本重量和厚度测量这款智能仪器可为广泛的薄膜、薄膜和涂层应用提供精确、可重复、高分辨率的基本重量和厚度测量。 • 多功能测量 — 通过多层区分，有效测量薄膜到厚片；透明、着色和有色薄膜；空白、微光和透气薄膜；有机和水基涂层； 测量昂贵的阻隔材料 — 如尼龙、EVOH 或 PVDC其他聚合物，如 PE、PP 或离子体 • 在任何环境下均具有成熟的性能 —— 不受过程和环境条件（如照明、温度、湿度和其他元素）变化的影响 • 非核技术-不需要特殊的许可证或保护防护装置 • 易于实施和维护-易于安装，其简单的校准技术和实用程序确保测量精度 • 全面控制和过程可视性-当与 NDC 的高性能扫描仪和 TDI 网络测量系统集成时，该平台可提供业界最佳的 Web 分析性能卓越的质量和生产力 • 卓越的支持-所有系统均由 NDC 专门的全球客户服务组织提供支持，通过 MyNDC 云服务提供 24 小时全天候服务