高性能、易于使用的在线直接厚度测量
OptiMike™ OM190 光学微米计可对非金属薄膜和厚膜产品进行精确的阴影厚度测量。
• 智能、非接触式测量 — 具有亚微米精度的先进光学厚度测量
• 灵活-不受产品颜色、密度或光泽度的影响
• 易于使用-切换产品时不需要校准
• 非核技术-不需要特殊的许可或保护防护罩
• 间隙变化或滚动跳出的动态补偿 —— 传感技术可补偿测量间隙距离的任何变化;精密参考辊具有较低的跳出特性,可实现精确绝对的测量性能
• 专为最低的成本而设计所有权 — 紧凑、坚固的设计能够承受环境因素,为精密光学提供更好的保护。 卓越的性能和更长的使用寿命降低了维护成本。
• 卓越的支持 — 所有系统均由 NDC 专门的全球客户服务组织提供支持,通过 MyNDC 云服务提供 24 小时全天候服务
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