厚度测量系统 M-thick光学干涉测量用于玻璃
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产品规格型号
- 物理量
- 厚度
- 所用技术
- 光学, 干涉测量
- 所测量的产品
- 用于玻璃
- 应用
- 实验室
- 其他特性
- 非接触型
产品介绍
墙体粘稠度
m-Thick光学传感器测量任何透明或半透明材料的总厚度，包括涂层。玻璃行业的主要应用是。
TFT e LCD面板
电子产品的薄玻璃
医药管和照明管
钟表业的玻璃板
M-thick干涉式光学传感器可以在生产线和QA/QC实验室中测量玻璃板、管子和物体的总厚度。测量是无接触的，提供微米级的精度
优势
反射法不需要
反射头
- 高精度
- 对操作人员完全安全（非电离和
非放射性光）。)
- 使用方便
- 多头布局
- 在实验室和生产中快速整合
生产线
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