X射线检查机 XT H Series

计算机断层成像工业用于电子工业

Nikon 的高适应性微焦点 CT 系统可对从微型塑料连接器到铝铸件的各种组件进行高分辨率检测，适用于研发、故障分析和生产质量控制。 适用于苛刻检测应用场景的适应性解决方案 这些系统将实验室所需的适应性与 225 kV Rotating.Target 2.0、Half.Turn CT 采集模式和 Auto.Filament 控制等独特功能相结合，在用于车间系列检测的情况下能够缩短周期时间并延长正常运行时间。 根据需求灵活选择配置 通过选择不同的射线靶，CT扫描模式，可电动调整的FDD值(源到探测器距离)等。 使尼康XT H 系统可适应各种检测任务 X.Tend Helical CT 可在单次采集过程中扫描较高物体，以消除因锥形束和多扫描拼接造成的伪影。另一个好处是，能以更高的放大倍率扫描物体，进而大幅提高分辨率。 独家的225 kV Rotating.Target 2.0 允许高达450 W的连续运行，在相同功率下分辨率高出3倍，或在给定分辨率下数据采集速度快3倍。