电子显微镜 ECLIPSE L300N series
检查用于电子工业

电子显微镜 - ECLIPSE L300N series - Nikon Metrology - 检查 / 用于电子工业 / 直
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产品规格型号

分类
电子
专业应用类型
检查, 用于电子工业
人体工学模式
显微镜镜筒
三目
观测技术
黑色底, 微分干涉差
配置
台式
光源
LED 照明
选项和配件
USB, 电动
其他特性
数码摄像机式, USB, 机动, 电致发光式, 用于半导体, 晶圆用
倍率

50 unit

重量

45 kg
(99.2 lb)

产品介绍

这一系列的显微镜是检查硅片、显示屏等大型样品的理想选择。 用于检查大型样品的高级显微镜 采用尼康CFI60-2光学系统设计,成像清晰;可搭配数码相机。 尼康ECLIPSE L300N(D)和L200N(D) 用于硅片(L200N系列为200mm,L300N系列为300mm)、分划板和其它大型平板类电子零部件的光学检查。 尼康CFI60-2光学系列 尼康的创新设计,支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、荧光、偏光(POL)、微分干涉(DIC)镜检,以及双光束干涉测量。 尼康Digital Sight数码相机 尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照,并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。 L200N与NWL200联合使用 在半导体行业中得到广泛认可和信任,目前有许多装置在使用。 尼康CFI60-2光学系统 尼康的创新设计光学系统成像清晰,支持多种显微镜镜检。 反射照明下可选择的镜检方式有:明场、暗场、偏光(POL)、微分干涉(DIC)、荧光和双光束干涉; 多种镜检方式 透射照明下可选择的镜检方式有:明场、暗场、偏光(POL)、微分干涉(DIC)和相差。

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