数字显微镜 Eclipse LV150NA

检查工业直

这一系列半导体显微镜采用纯反射照明，支持的镜检方式有：明场、暗场、微分干涉、偏光、荧光、双光束干涉，可搭载数码相机，常用于半导体、集成电路及其它各种材料的检查。 模块化设计、有电动型与手动型 采用尼康CFI60-2光学系统设计，成像清晰；可搭配数码相机拍照；模块化设计，方便应对各种功能扩展。 尼康ECLIPSE LV150NA和LV150N 主要用于半导体、工业材料和零部件检查，以及产品研发。 尼康CFI60-2光学系列物镜 尼康的创新设计，支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、荧光、偏光（POL）、微分干涉（DIC）镜检，以及双光束干涉测量。 尼康Digital Sight数码相机 尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照，并通过LV-ECON将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。 LV150N与NWL200联合使用 在半导体行业中得到广泛认可和信任，目前有许多装置在使用。