缩放摄像机物镜 Resolv4K series

红外检查SWIR

Resolv4K 镜头的设计不仅具有卓越的可见光波长轴向色彩校正能力，而且通过可见光、可见光-近红外（Vis-NIR）和 SWIR 选项，显著提高了波长聚焦能力。更大孔径的镜头附件大大增加了同轴照明选项的可用视场角。 - 与现有变焦镜头相比，可见光选件具有更出色的轴向色彩校正能力 - 可见近红外（Vis-NIR）选项可在深蓝波段进行精确的表面检测，同时在 1100 纳米波段进行次表面检测，而不会重新聚焦或损失透射率。 - 在食品和硅晶片检测等应用中，SWIR 选件可以更深入地观察表面下的损伤和缺陷。