原子力显微镜 LensAFM

测量用于分析检查

Nanosurf LensAFM 是一种原子力显微镜，可用于光学显微镜和轮廓仪分辨率达到极限的地方。它像普通物镜一样安装，从而扩展了这些仪器的分辨率和测量能力。LensAFM 不仅能提供三维表面形貌信息，还可用于分析测量样品的各种物理性质。 无缝集成 在越来越多的情况下，研究人员希望将光学和原子力显微镜技术结合起来。光学显微镜的易用性、筛选能力和最低的样品制备要求几乎是无与伦比的。然而，当 100 倍物镜的分辨率不足以检查超出仪器分辨率的微小特征时，LensAFM 便发挥了作用。其超小型的设计和巧妙的安装机制意味着您只需旋转光学显微镜或轮廓仪上的转塔即可进行扫描。 利用原子力显微镜增强光学显微镜，获得先进的洞察力 由于光学显微镜的分辨率受到光波长的限制，因此光学系统所能达到的分辨率存在一定的障碍。在越来越多的应用中，这就需要将光学显微镜和原子力显微镜结合起来。此外，原子力显微镜还能解决透明样品或难以用光学方法评估的样品的表征问题。但人们感兴趣的不仅仅是样品的粗糙形貌：原子力显微镜还能获得其他材料特性的知识、