光学显微镜 MX-SZ3M

用于材料分析电脑辅助机动

测量颗粒的长度、宽度和高度，其中不需要机动显微镜的功能--除了扫描台和聚焦驱动的机动化--。高分辨率的光学系统确保可以测量小至5微米的颗粒。还可以获得关于第三维的信息。 系统特点 - 使用高数值孔径的物镜进行分析，光学性能高 - 符合ISO标准的低至5μm的颗粒检测 - 颗粒的高度评估，以估计整体风险潜力 - 区分反射性（金属）和非反射性（塑料）颗粒 - 自动存储每种配置的放大率和相机设置 - 手动显微镜系统也可用于金相学或其他显微应用 - 具有高放大率和低校准值的可持续系统，可满足未来最小颗粒的要求。