平面度测量干涉仪 VI-direct

光学数字激光

微型干涉仪 VI-direct 将平面度测试范围扩展到最小直径领域。菲佐型干涉仪能够测量直径在 0.8 毫米到 3.6 毫米之间的光学部件的表面平面度。微型干涉仪 VI-direct 性价比高，可用于测试微型棱镜、激光晶体、光纤末端等光学部件。 - 通过 USB 3 端口直接连接电脑，无需图像采集器 - 高分辨率数码相机（3088x2076 像素） - 曝光时间短，对振动不敏感 - 多种光学和机械附件 - 可用于垂直、水平或倾斜方向。这使得该仪器在客户的特定应用中具有极高的通用性 - 由于设计紧凑，干涉仪非常适合集成到特定应用的工作站中 - 使用 INTOMATIK-S 进行可视评估或可选软件支持的评估 - 光源：光纤耦合非稳定氦氖激光器（λ=632.8 nm）