测量显微镜 MF-U

光学检查双目

其无限校正光学系统允许广泛的应用（例如暗场、偏振和 DIC 显微镜）和使用转塔。 MF-U 具有以下优点： -测量精度在同类产品中名列前茅。 -来自 FS 光学系统（长工作距离型）的经过验证的高 NA 物镜。 -集成了金相显微镜和测量显微镜功能，使您能够进行高分辨率观察和高精度测量。 -照明装置（反射/透射）可让您选择高亮度 LED 或卤素灯泡。 -可变孔径光阑（反射/透射）可在抑制光衍射的同时进行观测测量。 -各种标准化平台，最大尺寸为 400 × 200 毫米。 -快速释放装置，可在测量大型或大量工件时快速移动平台。 -高倍率目镜观察，最高可达 2000 倍。 -多种可选附件，包括视觉单元、各种数码相机或 PC 上的数据管理，保证了广泛的应用领域和出色的测量效率。