次峰值测量站

MicroXact在与客户合作开发特定应用和高度定制的探测解决方案方面有着悠久的历史，以满足不断变化的需求，包括扩展温度范围和定制光学器件的集成。我们致力于寻找解决方案，帮助降低您的测试成本。以下是此类解决方案的例子。 定制的晶圆探针站 - 在外部照明下进行探测 许多光电元件（红外传感器、辐射计、焦平面阵列、光伏模块等）在探测过程中需要外部照明和定制的光学器件集成。这种照明的范围从黑体照明到太阳模拟器照明以及脉冲、调制或连续波激光的照明。另一组需要外部照明的应用与激光修剪或切割有关。MicroXact有为这些类型的应用调整其探针的经验，并总是乐于与客户合作，为客户的定制探针站要求提出方便和经济的解决方案。 - 扩展温度范围探针台 一个重要的应用子集是与低温太赫兹设备测试和晶圆测试有关。为了解决这些问题，MicroXact提供了扩展温度范围的标准探针站，以及高度定制的解决方案，包括异常高的热负荷，非常高的频率测试（110GHz及以上），以及异常高的测试物品的热质量。