磁性次峰值测量站 MPS-C series

MPS-C-300和MPS-C-350磁探针系统是世界上第一个能够在被测设备周围提供三维磁场控制的探针站。 MicroXact真正独特的正在申请专利的设计使晶圆级的自旋电子器件、纳米级电子器件和许多其他需要磁场进行精确测试和测量的材料和设备的测试成为可能。自旋电流和自旋扭矩振荡器测试、磁模拟和复杂的多层结构的各向异性识别只是我们MPS系统的几个应用实例。 特点 - MPS系列磁力探针站是市场上唯一提供任意二维或三维方向应用磁场的探针站，使这些探针站成为自旋电子器件特性和自旋电子研究的最终解决方案。 - MPS系列磁力探针站是市场上唯一提供晶圆级矢量磁场探测的探针站，使这些系统非常适用于生产环境中的自旋电子器件和磁电子器件测试。 - 完全可定制的、基于LabView的开源控制软件，可轻松与最常见的测试和测量设备集成。 - 可提供高分辨率的微定位器，带有40、80、100和200TPI的螺丝，用于小至微米级的探头定位。 - 收集和/或分析的数据有多种输出格式和选项可供选择。 - 系统提供一个三维霍尔探头，通过闭环控制提供无可比拟的稳定性和应用磁场的准确性。