动态图像分析粒度分析仪 CAMSIZER® X2

实验室粒子形状

新型 CAMSIZER X2 可以显著改善细粉的质量控制：更精确、更快地分析颗粒尺寸和颗粒形状，有助于提高产品质量，减少不良品质，节省劳动力成本、能源和原材料。 CAMSIZER X2 的设计基于久经考验的光学粒子测量系统，但针对更精细的样品（从 0.8 µm 到 8 mm）进行了优化。 不仅提高了光学分辨率，还提供了新的材料送料选项，从而扩大了应用范围。 细粒子往往会聚集，因此难以记录单个粒子的属性。 因此，重要的是有各种可能性将样品送到分析区域，以便能够为每种材料找到所需的聚集物分散与个别粒子的不希望破坏之间的最佳状态。 CAMSIZER X2 提供灵活的 X-Change 系统：从对材料最温和的 X-Flow 模块（自由坠落模式）到具有可调压力和可变喷嘴几何形状的 X-Flow 模块，以及颗粒分散在液体中的 X-Flow 模块，可选的超声波探头。 产品优势采用 专利双摄像头系统进行数字图像处理（符合 ISO 13322-2 标准） 宽动态测量范围从 0.8 µm 至 8 mm（可扩展测量范围，请点击此处查看更多信息） 新开发的带超强 LED 的光学系统，实现最高分辨率和出色的锐度深度 可靠地检测最小数量的 “不大” 和 “超大”