便携式测厚仪

内壁模拟数显

由 MICROTECH 研发和制造的二维壁厚测量仪。 用于控制壁厚和深度。 与标准测厚仪的主要区别在于可以控制深度。 可根据客户要求提供特殊参数 可配备数字或计算机测量模块，分辨率为 1 或 10 微米，可将数据无线传输到 MDS 软件。