曲率半径测量系统

直接接触实验室USB

MICROTECH 制造适用于工业 4.0 的带外置探头的片式亚微米度盘测试指示器 MICROTECH研发的计算机测量系统（专利号：UA126928, UA99686），分辨率为0.1微米。 计算机化的平板刻度盘测试指示器可用于精密线性测量，也可用于半径、球面等定制支架和装置。外置探头长度为 2-10 米，安装范围广泛。 称重显示器的 TABLET 测量模块具有以下功能 在线图形模式 彩色模拟可调刻度 HUB 连接（外部 MICROTECH 无线设备连接） 2D 连接可能性（外部设备无线连接和指示） 探头连接（外部指示器或杠杆式指示器无线连接），带自动模式 带文件夹系统和统计功能的内部存储器，可存储 2000 个数值、 带彩色指示的 LIMITS（Go/NoGo）功能、 峰值（最大/最小）、 计时器 公式 Ax2+Bx+C、RADIUS、SPHERE 手动温度补偿 线性补偿 分辨率选择 0.1/0.01/0.001/0.0001 毫米，也以英寸为单位 校准日期控制 可充电锂聚合物电池，带微型 USB 接口 使用 USB 电缆更新软件 无线远距离数据传输至MICROTECH MDS应用程序，适用于Windows、Android和iOS（免费版本）。从 MDS 应用程序的链接下载 MICROTECH MDS 应用程序。 无线 HID 数据传输至任何系统和应用程序（键盘模式），可进行数据配置 可选 MODBUS PLC 数据输出（4 线制，RS-485），可进行数据配置 USB HID 数据传输到任何系统和应用程序（键盘模式），可进行数据配置