信息化测高计 144303391

MICROTECH 制造二维平板微米高度测量仪，激光测头采用工业 4.0 技术 采用 MICROTECH 开发并获得专利（专利号 US10184772、UA174949、UA126928）的计算机测量系统的片剂高度测量仪，分辨率为 1 微米，量程为 300、600 毫米（12、24 英寸）。 MICROTECH 平板高度测量仪带有移动微调轮。 激光测头可以像第二轴一样使用，也可以像非接触式测头一样使用。 平板测高仪的测量模块具有以下功能 在线图形模式 彩色模拟可调刻度 HUB 连接（外部 MICROTECH 无线设备连接） 2D 连接可能性（外部设备无线连接和指示） 探头连接（外部指示器或杠杆指示器无线连接），带自动模式 带文件夹系统和统计功能的内部存储器，可存储 2000 个数值、 带彩色指示的 LIMITS（Go/NoGo）功能、 峰值（最大/最小）、 计时器 公式 Ax2+Bx+C 手动温度补偿 线性补偿 分辨率选择 0.1/0.01/0.001 毫米，也以英寸为单位 校准日期控制 可充电锂聚合物电池，带微型 USB 接口 使用 USB 电缆更新软件 无线远距离数据传输至 Windows、Android 和 iOS 版 MICROTECH MDS 应用程序（免费版本）。从 MDS 应用程序的链接下载 MICROTECH MDS 应用程序。 无线 HID 数据传输至任何系统和应用程序（键盘模式），可进行数据配置 可选 MODBUS PLC 数据输出（4 线制，RS-485），可进行数据配置 USB HID 数据传输到任何系统和应用程序（键盘模式），可进行数据配置