信息化测高计 14430 series

数显

MICROTECH 生产采用工业 4.0 微调技术的片剂微米双柱高度规 采用 MICROTECH 开发并获得专利（专利号 US10184772、UA174949、UA126928）的计算机测量系统的片剂高度测量仪，分辨率为 1 微米，量程为 300、500、600、1000 毫米（12、20、24、40 英寸）。 MICROTECH 片式高度测量仪带有移动微调轮 平板高度计的测量模块具有以下功能 - 在线图形模式 - 彩色模拟可调刻度 - HUB 连接（外部 MICROTECH 无线设备连接） - 2D 连接可能性（外部设备无线连接和指示） - 探头连接（外部指示器或杠杆指示器无线连接），带自动模式 - 带文件夹系统和统计功能的内部存储器，可存储 2000 个数值、 - 带彩色指示的 LIMITS（Go/NoGo）功能、 - 峰值（最大/最小）、 - 计时器 - 公式 Ax2+Bx+C - 手动温度补偿 - 线性补偿 - 分辨率选择 0.1/0.01/0.001 毫米，也以英寸为单位 - 校准日期控制 - 可充电锂聚合物电池，带微型 USB 接口 - 使用 USB 电缆更新软件