双轴扫描仪 scanCONTROL 30x0
质量控制尺寸测量用于坐标测量仪

双轴扫描仪 - scanCONTROL 30x0  - MICRO-EPSILON/米铱 - 质量控制 / 尺寸测量 / 用于坐标测量仪
双轴扫描仪 - scanCONTROL 30x0  - MICRO-EPSILON/米铱 - 质量控制 / 尺寸测量 / 用于坐标测量仪
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产品规格型号

轴数
双轴
应用
质量控制, 尺寸测量, 用于坐标测量仪, 形状测量, 用于表面检测, 用于焊接检测, 用于环焊缝检测, OEM, 轮廓, 用于检测, 用于机器人
所用技术
激光三角测量, 光学
应用领域
用于生产线, 医疗用途
配置
紧凑型, 固定式, 在线
其他特性
高速, 高解析度, 高精度, 以太网, IP67, 蓝色激光二极管, 集成电子式, 非接触式
长度

最多: 121 µm

最少: 106 µm

宽度

最多: 96 µm

最少: 40 µm

阅读距离

最多: 420 mm
(16.5 in)

最少: 78 mm
(3.1 in)

产品介绍

scanCONTROL 30x0激光扫描仪在尺寸、精度和测量速率方面是性能最高的轮廓传感器之一。它们提供校准的二维轮廓数据,每秒可达737万点。它们的轮廓频率高达10 kHz,能够在动态过程中进行精确的轮廓测量。高分辨率的传感器矩阵提供了2048个点的分辨率,极限点距仅为12微米。由于其高精度、高剖面频率和多功能性,这些强大的扫描仪适用于苛刻的测量任务。它们可以高精度地测量和评估,例如,角度、台阶、间隙、距离和圆圈。这些传感器还提供预定义的操作模式,使各种应用获得最佳结果。 scanCONTROL 30x0系列有COMPACT和SMART两种版本。COMPACT型扫描仪提供经过校准的轮廓数据,可以通过客户提供的软件评估在电脑上进一步处理。SMART扫描器自主操作,提供选定的测量值。scanCONTROL 30x0系列支持所有SMART功能和程序,这些功能和程序在scanCONTROL配置工具软件中设置并直接存储在内部控制器中。 在不均匀或黑暗的表面,HDR(高动态范围)数据采集模式和改进的自动曝光可以优化测量结果。在HDR模式下,传感器矩阵的各行以不同的方式曝光,但在同一时间,这避免了记录之间的时间偏移。这就是移动物体能够被可靠检测的原因。自动曝光的区域可以单独选择。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。