厚度测量仪器 MPLS180-DM

距离光学非接触式

基于STIL的色度共聚焦技术，ChromaLine传感器系列代表了工业整合的下一步。 由于其精确性、坚固性和无需任何维护的数年使用寿命，MPLS传感器适应了在线控制的要求。 新的MPLS-DM版本具有180个沿线排列的测量点，范围从1到12毫米不等，可以实现具有新功能的高质量检测，在标准模式下工作频率可达2kHz，在缩小传感器测量范围的情况下甚至可以达到6kHz。 - 多功能：测量任何能够反射白光的材料（如金属、玻璃、塑料、漆膜、液体）。 - 由于其光学头完全由无源元件组成，因此具有工业性 - 高达36万个测量点/秒，可以在所有行业中以2K线/秒的标准工作。 - 在6K线/秒的专门应用中可获得超过100万个点/秒的测量结果 - 距离和厚度测量 - 测量精度高 - 提供SDK和协议指令，可轻松集成到任何系统中 - 与编码器同步测量，实现动态采集 - 以太网通信