EDXRF光谱仪 Epsilon 4
ICP监控用于食品分析

EDXRF光谱仪 - Epsilon 4  - Malvern Panalytical - ICP / 监控 / 用于食品分析
EDXRF光谱仪 - Epsilon 4  - Malvern Panalytical - ICP / 监控 / 用于食品分析
EDXRF光谱仪 - Epsilon 4  - Malvern Panalytical - ICP / 监控 / 用于食品分析 - 图像 - 2
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产品规格型号

类型
EDXRF, ICP
应用领域
监控, 用于食品分析, 食品工业, 安全, 用于环境工业
配置
台式

产品介绍

随着人口数量的不断增长,人们对于更好地处理地球资源的需求也日益增加。 Epsilon 4 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF) 光谱仪是一种强大的分析工具,可获得有用的元素信息,促进作物生长,确保产品和环境安全。 Epsilon 4 激发和检测技术的新进展为传统上由ICP和AAS执行的具有挑战性的应用提供了可能性。从ICP切换到EDXRF显著减少了耗材、公用事业和时间的使用。 概述 Epsilon 4 用于控制动物饲料中的养分营养素,以保持家畜健康并更大程度减少粪肥产生的温室气体。 其他应用包括监控环境空气中可吸入颗粒物的元素组成 (EPA IO3-3) 或食品产品中的养分和盐含量。 根据 ISO 18227、ISO 15309 和 ASTM C1255 的规定,对土壤和肥料进行分析,改善生长条件,确保无有毒元素影响作物。 只需一次适度投资,Epsilon 4 就可以带来显著的附加价值,如下图所示。 台式 XRF 的优势 Epsilon 4 将激发和检测技术与智能设计相结合,其分析性能更接近于功率更高的落地式光谱仪。 选择性激发和 X 射线管输出与探测系统功能的优化配置为实现系统高性能打下了基础。 低运行成本 不需要昂贵的酸 不需要液氮 不需要样品制备,直接将样品放到光谱仪中即可。 分析完成后,昂贵的标准(如空气滤清器)不会损坏,可重复用作质量控制或验证样品。 利用高质量 X-射线和硅漂移探测器,维护成本低 准确的结果 Epsilon 软件中的解谱算法十分强大,即使在 XRF 光谱中元素峰重叠,也可以确保结果准确。 Epsilon 软件中的空白减法运算,在通过不同基底材料分析空气滤清器时,提供灵活度和准确性。 测量时,被测样品的自旋尽量避免质地不均而造成的误差,从而提供更准确的结果。 迅速、灵敏 利用可生成更高强度的硅漂移探测器技术实现迅速测量。 探测器电路提供的线性计数率可超过 1,500,000 cps(在 50% 的死时间下),和计数率无关的分辨率通常高于 135 (eV@300 kcps),可更好地对邻近谱线进行分离。强有力的探测性能使得 Epsilon 4 能谱仪超越了传统台式仪器,实现了更快的测试响应和更低的检出限。 这使得 Epsilon 4 光谱仪能够以全功率运行,因此与传统的 EDXRF 台式仪器相比,实现了更高的样品通量。
* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。