X射线光谱仪 Epsilon 1 for small Spot

X 射线荧光用于电子元件用于电子工业

您是否需要对电子设备、玩具、珠宝、岩石或最终成品中的微小物体或细小夹杂物进行元素分析？ 专注微小区域分析的 Epsilon 1 是一款紧凑型 X 射线荧光光谱仪，可分析大小为 0.8 x 1.2 mm 的测量区域，是实现灵活与精准分析的理想分析解决方案。 Epsilon 1 采用独立式设计且占地面积小，因此可以放在样品位置附近，从而使该仪器成为在生产设施、勘探点和柜台处进行元素分析，甚至是在犯罪现场就刑侦调查进行元素分析的理想解决方案。 该光谱仪的性能符合不同行业市场领域内的不同指令和法规所要求的标准测试法，如面向电子设备的 RoHS-3 指令和针对众多消费类用品的 CPSIA 法规。 可靠且灵活的定量分析 为各种应用提供可靠检测结果，如 RoHS-3、WEEE、ELV、玩具、珠宝、岩石和最终产品检测。 这些得益于Omnian，Omnian 是马尔文帕纳科用于 XRF 仪器的无标分析软件包。 作为即用型的解决方案，Omnian 用来分析周期表中从钠到镅的各种元素成分。 借助专门校准，遵循 ASTM F2617 (RoHS) 等国际测试方法，或依据 ASTM F963（玩具）和 IEC 62123（电子设备）所描述的规格进行筛选。 ASTM F2617-15 符合 RoHS-3 指令 XRF 是对有毒金属和化合物进行筛选与定量分析的完善解决方案。 电子产品中的有毒金属含量受全球指令限制，如 RoHS-3、WEEE、ELV、电子信息产品污染控制管理办法（相当于中国的 RoHS 指令）及其他类似指令。 所有这些指令的范围会略有不同，但共同点是都对镉、铅、汞、六价铬和几种溴化苯基阻燃剂进行了限制。 ASTM F2617-15 是一种公认的测试方法，可以对受限元素和化合物的浓度进行定量分析。马尔文帕纳科的数据表表明 Epsilon 1 功能符合 ASTM F2617-15 要求，甚至是分析大小为 0.8 x 1.2 mm 的测量区域。