光学显微镜 CM EXPLORER

测量共焦3D

灵活的全方位测量解决方案 MarSurf CM explorer 有坚固的结构且对环境波动不敏感，所以适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量。 典型测量任务 • 粗糙度测量符合 • ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178 • 表面特征轮廓测量（包括体积、磨损、摩擦学） • 轮廓和形状 (2D, 3D) • 孔，颗粒分析 • 缺陷检测 • ... 最高数据质量 我们最重要的标准之一，即优异的精度、准确性、可重复性、可再现性和文档记录，可保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的最高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值等。 准确，可重复的测量 您的测量数据将可靠地记录、可以复制，并确保原始数据和轮廓精度有最高的质量。 可测的工件范围广泛 测量不受材料影响，不管几何形状和表面特性是反射性、吸收性、不透明还是透明，都能进行测量。 直观的操作 简单的用户引导界面，所有重要测量参数都有自动模式，包括对已知表面使用测量方案。