表面重量测量系统 Gravimat DFI

连续式非破坏性

Beta 传感器 Gravimat FMI/DFI 测量基重（每单位面积的质量）/厚度/密度 β传感器通过同位素射线来测量克重和材料厚度 该传感器可用于Qualiscan QMS-12卷材测量系统。 β射线的传输 重量监测和控制系统可连续测量重量，无需接触、无损和移动产品。该测量是基于放射性同位素的射线通过位于测量间隙的基体的衰减。这种强度的衰减是产品重量的一种指示。 Gravimat使用一个目标重量来减少不同平方米的重量范围，从而确保产品更加一致。 客户受益 非破坏性地连续测定产品卷材的单位面积重量 高度稳定和准确的测量，同时对校准的需求也很低 DFI允许更宽的测量间隙，避免了对软质卷材或湿涂层的损害 产品亮点 带有超快微处理器的智能传感器用于预处理测量 由于使用了极其有效的β辐射探测器，因此测量精确 四个温度补偿传感器以及气压补偿