质量测试套装 QQI

磁性粒子

磁粉检测性能评估装置 该类磁粉检测试块/试片可以帮助您检查磁粉检测新能，来维持您的检测流程合规。它们可以用来检查磁粉退化、比较不同磁粉性能、检测灵敏度或可见性，以及确认磁场方向和强度。 了解更多关于磁粉检测仪表的信息，可点击下方，如您需要选型方面的帮助可联系我们。 QQI试片 量化品质试片 美国磁通量化品质试片（QQI）是带有人工缺陷的标准磁粉检测试片，用以确定磁场方向和相应的磁场强度，亦可用于平衡多向磁场，将磁化次数降至最低，以提高生产效率。每个包装内包含5个QQI试片。 符合规范 • ASME BPVC • ASTM E709 • ASTM E1444 件号: （每个包装内包含一套5个QQI试片） 625551: 标准QQI试片 #KSC-230 人工缺陷呈基圆和十字交叉条形，适用于纵向和周向磁场。缺陷深度为试片厚度的30%，试片厚度为0.002英寸 (0.05毫米)。 625552: 小型QQ I试片 #KSC-4-230 与KSC-230相似，专用于工件上的小区域，每片上四个圆，可切割开，单独使用。缺陷深度为试片厚度的30%，试片厚度为0.002英寸 (0.05毫米)。 625553: 标准QQI试片 #KSC-430 人工缺陷呈基圆和十字交叉条形，适用于纵向和周向磁场。缺陷深度为试片厚度的30%，试片厚度为0.004英寸 (0.1毫米)。 625554: 不同深度的QQI试片 #KSCT-234 用于定量要求更高的作业，人工缺陷呈三个不同深度的同心圆环。缺陷深度分别为试片厚度的20%，30%， 40%，试片厚度为0.002英寸 (0.05毫米)。 625555: 不同深度的QQI试片 #KSC4-234 用于定量要求更高的作业，人工缺陷呈三个不同深度的同心圆环。缺陷深度分别为试片厚度的20%，30%， 40%，试片厚度为0.004英寸 (0.10毫米)。